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當前， 工業(yè)互聯(lián)網(wǎng)整體網(wǎng)絡架構可以分為三個層次，分別為網(wǎng)絡互聯(lián)體系、 地址與標識解析體系和應用支撐體系， 本材料為了對工業(yè)互聯(lián)網(wǎng)的三個重要體系進行深入知識產(chǎn)權分析，選取現(xiàn)場總線、工業(yè)以太網(wǎng)和OPC做為工業(yè)互聯(lián)網(wǎng)網(wǎng)絡互聯(lián)體系的知識產(chǎn)權研究對象，選取 ONS、 Handle、OID、Ecode 等主流標識解析體系作為工業(yè)互聯(lián)網(wǎng)標識解析體系的知識產(chǎn)權研究對象，選取工業(yè)互聯(lián)網(wǎng)平臺中的數(shù)據(jù)層作為工業(yè)互聯(lián)網(wǎng)應用支撐體系的知識產(chǎn)權研究對象。 
 

本文中，對選取的不同體系研究對象按照時間視角、地域視角、參與者視角、技術創(chuàng)新視角等維度進行全方位剖析，對相關技術的專利申請趨勢進行分析以研究該技術的隨年發(fā)展情況，對相關技術的專利布局地域進行分析以探析該技術的重要市場和技術主導國，對相關技術的專利權人進行分析以追蹤該技術的先進引領者，對相關技術進行細分以探尋技術發(fā)展脈絡，對相關技術涉及的知識產(chǎn)權風險進行梳理，以發(fā)掘潛在專利侵權風險。
 

最后， 本文對涉及的關鍵技術結合產(chǎn)業(yè)發(fā)展和知識產(chǎn)權發(fā)展， 給出了綜合性建議。